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		<title>Wafle on Ultra-Performance IR Heating</title>
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		<description>Recent content in Wafle on Ultra-Performance IR Heating</description>
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				<title>Lampe de chauffage pour le test de brûlure des wafer</title>
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				<description>&lt;p&gt;&lt;img src=&#34;http://ir-heat-ultra.com/images/0ea7296bcdd661f341d1983d454c4037.png&#34; alt=&#34;Lampe de chauffage pour le test de brûlure des wafer&#34;&gt;&lt;/p&gt;&#xA;&lt;p&gt;Sur le plan de fabrication, les variations de température pendant les étapes de burn-in des puces et de séchage du photo-résiste ne sont pas signalées par aucun indicateur. Elles se manifestent plutôt par une variation de la largeur des lignes gravées sur la puce, une faible adhérence entre les différentes couches, ainsi qu’une diminution du rendement de production, ce qui n’apparaît que lors des tests électriques. Nous avons conçu nos lampes à chaleur NIR pour empêcher ces variations avant même qu’elles ne surviennent.&lt;/p&gt;</description>
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