<?xml version="1.0" encoding="utf-8" standalone="yes"?>
<rss version="2.0" xmlns:atom="http://www.w3.org/2005/Atom">
	<channel>
		<title>Test on Ultra-Performance IR Heating</title>
		<link>http://ir-heat-ultra.com/nl/tags/test/</link>
		<description>Recent content in Test on Ultra-Performance IR Heating</description>
		<generator>Hugo</generator>
		<language>nl</language>
		
		
		
		
			<lastBuildDate>Mon, 22 Jun 2026 23:38:30 +0800</lastBuildDate>
		
			<atom:link href="http://ir-heat-ultra.com/nl/tags/test/index.xml" rel="self" type="application/rss+xml" />
			<item>
				<title>Wafer burn testverwarmingslamp</title>
				<link>http://ir-heat-ultra.com/nl/posts/wafer-burn-in-test-heating-lamp/</link>
				<pubDate>Mon, 22 Jun 2026 23:38:30 +0800</pubDate>
				<guid>http://ir-heat-ultra.com/nl/posts/wafer-burn-in-test-heating-lamp/</guid>
				<description>&lt;p&gt;&lt;img src=&#34;http://ir-heat-ultra.com/images/0ea7296bcdd661f341d1983d454c4037.png&#34; alt=&#34;Wafer burn testverwarmingslamp&#34;&gt;&lt;/p&gt;&#xA;&lt;p&gt;Op de productielijn veroorzaken temperatuurschommelingen tijdens het ‘burn-in’-proces van de wafers en het drogen van de fotorezist geen waarschuwingssignalen. Ze worden echter wel merkbaar in vorm van een afwijking in de dikte van de lijnen op de wafers, zwakke hechting tussen de lagen, en een daling in de kwaliteit van de wafers – dit wordt pas later ontdekt tijdens de elektrische tests. We hebben onze NIR-verwarminglampen zo ontworpen dat ze deze afwijkingen voorkomen, nog voordat ze zich kunnen voordoen.&lt;/p&gt;</description>
			</item>
	</channel>
</rss>
