<?xml version="1.0" encoding="utf-8" standalone="yes"?>
<rss version="2.0" xmlns:atom="http://www.w3.org/2005/Atom">
	<channel>
		<title>Kiểm Tra on Ultra-Performance IR Heating</title>
		<link>http://ir-heat-ultra.com/vi/tags/ki%E1%BB%83m-tra/</link>
		<description>Recent content in Kiểm Tra on Ultra-Performance IR Heating</description>
		<generator>Hugo</generator>
		<language>vi</language>
		
		
		
		
			<lastBuildDate>Mon, 22 Jun 2026 23:38:30 +0800</lastBuildDate>
		
			<atom:link href="http://ir-heat-ultra.com/vi/tags/ki%E1%BB%83m-tra/index.xml" rel="self" type="application/rss+xml" />
			<item>
				<title>Đèn sưởi dùng để kiểm tra hiện tượng cháy wafer</title>
				<link>http://ir-heat-ultra.com/vi/posts/wafer-burn-in-test-heating-lamp/</link>
				<pubDate>Mon, 22 Jun 2026 23:38:30 +0800</pubDate>
				<guid>http://ir-heat-ultra.com/vi/posts/wafer-burn-in-test-heating-lamp/</guid>
				<description>&lt;p&gt;&lt;img src=&#34;http://ir-heat-ultra.com/images/0ea7296bcdd661f341d1983d454c4037.png&#34; alt=&#34;Đèn sưởi dùng để kiểm tra hiện tượng cháy wafer&#34;&gt;&lt;/p&gt;&#xA;&lt;p&gt;&lt;a href=&#34;https://o-yate.net&#34;&gt;Trong&lt;/a&gt; quá trình xử lý &lt;a href=&#34;https://henruite.com&#34;&gt;wafer&lt;/a&gt;, những biến đổi về nhiệt độ xảy ra trong giai đoạn kiểm tra chất lượng wafer và quá trình sấy phim quang học thường không được báo hiệu trước. Những biến đổi này thể hiện dưới dạng sự thay đổi chiều rộng của các đường kẻ trên wafer, độ bám kém giữa các lớp vật liệu trên wafer, cũng như tỷ lệ wafer bị lỗi – những vấn đề này chỉ được phát hiện sau đó, trong quá trình kiểm tra điện tử. Chúng tôi đã chế tạo những bóng đèn sưởi IR để ngăn chặn những biến đổi này ngay từ đầu.&lt;/p&gt;</description>
			</item>
	</channel>
</rss>
