http://ir-heat-ultra.com/zh/tags/%E7%83%A7%E4%BC%A4%E7%87%83%E7%83%A7/ Recent content in 烧伤；燃烧 on Ultra-Performance IR Heating Hugo zh Mon, 22 Jun 2026 23:38:30 +0800 http://ir-heat-ultra.com/zh/posts/wafer-burn-in-test-heating-lamp/ Mon, 22 Jun 2026 23:38:30 +0800 http://ir-heat-ultra.com/zh/posts/wafer-burn-in-test-heating-lamp/ <p><img src="http://ir-heat-ultra.com/images/0ea7296bcdd661f341d1983d454c4037.png" alt="晶圆烧结测试用加热灯"></p> <p>在芯片制造过程中，晶圆老化测试以及光刻胶烘烤阶段所出现的温度波动并不<a href="https://o-yate.net">会有任何预</a>警信号。这些波动会表现为线条宽度的变化、粘附力下降，以及最终在电气测试时才会显现出来的良率降低问题。我们设计的近红外加热灯能够防止这种波动的产生。</p> <p><strong>系统内部的关键要素</strong> 该系统采用短波近红外光源，配合反应迅速的石英外壳，从而快速且无需接触即可将热量传递给晶圆。整个处理区域的温度稳定性可达到±0.1°C，而不同批次之间的温度一致性则可保持在0.2°C以内。通过精确控制热量输出，可以确保溶剂能够彻底挥发，同时避免晶圆表面出现交联现象。</p>